Badania struktury
i powierzchni materiałów

DB+
Skaningowy mikroskop elektronowy HITACHI TM-3000 z przystawką EDS 300 Oxford

Mikroskop wyposażony jest w mikroanalizator rentgenowski EDS, który umożliwia badanie morfologii powierzchni próbek z wysoką rozdzielczością, jak również przeprowadzanie analizy ilościowej i jakościowej składu chemicznego badanych próbek.
Podstawowe dane techniczne:

  • powiększenie: do 30 000x
  • warunki pracy: 5 kV / 15 kV / analiza EDS
  • nowoczesny, półprzewodnikowy detektor BSE (elektronów wstecznie rozproszonych)
  • tryby obrazowania: COMPO / Shadow 1 /Shadow 2 / TOPO
  • maksymalna średnica próbki: 70mm
  • maksymalna wysokość próbki: 30mm
  • proste przygotowanie preparatów – bez konieczności wykonywania pokryć metalicznych w przypadku próbek nieprzewodzących
  • możliwość obserwacji stereoskopowych z wysoką rozdzielczością i dużą głębią ostrości nieosiągalną w mikroskopii optycznej

Mikroskop metalograficzny NIKON ECLIPSE LV150N

Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), pozwalający na automatyczne robienie zdjęć w powiększonej głębi ostrości (EDF), wraz z trójwymiarowym obrazowaniem powierzchni, a także pozwala na automatyczne skanowanie całych zgładów metalograficznych w wysokiej rozdzielczości.

PARAMETRY PRACY:

  • Obserwacje w jasny (BF) i ciemnym (DF) polu
  • Obserwacje w świetle spolaryzowanym (POL)
  • Obserwacje w kontraście Nomarskiego (DIC)
  • Zmotoryzowany stolik

Profilometr HOMMEL-TESTER T8000

Profilometr T8000 Hommel-Tester, to urządzenie pozwalające na wykonywanie pomiarów zarówno w ujęciu dwuwymiarowym (rejestracja profilu chropowatości powierzchni) jak i przestrzennym (rejestracja topografii powierzchni).
Urządzenie umożliwia wykonywanie pomiaru chropowatości, konturu oraz topografii 3D.

Najważniejsze parametry:

  • maksymalna długość przesuwu wynosi 60 mm (ze stałą rozdzielczością 10 nm)
  • regulowana prędkość przesuwu od 0,1 do 3 mm/s.
  • głowice o promieniu wierzchołkowym 2 μm
  • zakres pomiarowy przyrządu (w kierunku pionowym) ok ± 800 μm
    głowica stykowa i optyczna

Urządzenie wyposażone jest w oprogramowanie komputerowe HommelMap Basic, umożliwiające analizę i wizualizację uzyskanych danych pomiarowych.
Przykładowe parametry chropowatości możliwe do uzyskania podczas badania:
Ra – średnie arytmetyczne odchylenie profilu chropowatości. Najczęstsze wartości Ra dla powierzchni metalowych wynoszą od 0,02 μm do 3,5 μm – im niższa wartość, tym doskonalsza powierzchnia (0,02 μm = gładkość lustra),
Rz – wysokość chropowatości według 10 punktów. Najwyższa wysokość profilu chropowatości Rz, to suma wysokości najwyższego wzniesienia profilu i głębokości najniższego wgłębienia profilu wewnątrz odcinka elementarnego.
Rp – maksymalna wysokość wzniesienia profilu chropowatości
Rv – głębokość najniższego wgłębienia profilu

Mapa topografii powierzchni

Pojedynczy profil chropowatości